FIZ News
June 2013
Wettbewerbsvorteile in Indien sichern – STN® bietet ab sofort umfassende indische Patentinformation
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Erdos Centennial – 100th Anniversary of Paul Erdos, Budapest, 01.-05. Jul
ACA 2013 (American Crystallographic Association), Honolulu, US, 20.-24. Jul
37th Conference of the International Group for the Psychology of Mathematics Education, Kiel, 28. Jul - 02. Aug
STN International liefert Gebrauchsmuster aus China, Japan und Korea
27. November 2008
Derwent World Patents Index® (DWPI) auf STN International um asiatisch-pazifische Gebrauchsmuster erweitert / Vorab-Veröffentlichung im DWPI First View (WPIFV), danach tief erschlossene Dokumente für alle DWPI-Files / Präsentation auf der Fachmesse Online Information in London, Olympia (2. - 4. Dez. 2008) auf dem STN-Stand Nr. 512, Grand Hall