Volltextpatentdatenbanken auf STN und Evaluierung von Patentdaten mit Hilfe des STN Viewers
Ziel: Das Seminar ist in zwei Teile aufgeteilt: Ziel des ersten Seminarteils ist es, den Aufbau der verschiedenen STN Patentvolltextdatenbanken, die Implementierung des Patenterteilungsprozesses in den unterschiedlichen Patentvolltextdatenbanken, die Patentvolltextrecherche in einer Multifile Umgebung sowie nützliche Werkzeuge und Funktionalitäten für eine effektive Patentvolltextrecherche vorzustellen und zu vermitteln. Der zweite Teil des Seminars zielt darauf ab, die Inhalte und den sicheren Umgang mit dem STN Patentevaluierungstools "STN Viewer" zu vermitteln.
Zielgruppe: Patentrechercheure
Voraussetzungen: Gute Kenntnisse in der STN Suchsprache, Grundkenntnisse im Patentbereich (Inhalte von Patentpublikationen, Patentierungsprozess, Patentfamilien...)
Inhalt:
Gründe für Recherchen in Patentvolltextdatenbanken
Indexierungsphilosophien und Implementierung des Patenterteilungsprozesses in den unterschiedlichen STN Patent Volltextdatenbanken
Inhalte und Funktionalitäten der STN Patent Volltextdatenbanken
STN Tools zur effektiven Recherche in Patentvolltextdatenbanken
Identifikation von Patent Familien in einer Patentvolltext Multifile-Umgebung
Vorgehensweise einer Patent Volltextrecherche demonstriert an einem Recherchebeispiel
Verwendung des STN Patentevaluierungstools "STN Viewer"
Veranstaltungsort: Computer & Management Training GmbH Hansastraße 32 80686 München Karte
